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Misure elettriche ed elettroniche - IMIS-01/B

Codice precedente: ING-INF/07

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  1. 2014Un Sistema per la Caratterizzazione di ElasticiArticolo in rivista | Francesco Adamo; Filippo Attivissimo; Giuseppe Cavone | TUTTO MISURE

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  2. 2014Wideband measurement method for prognosis of soldering failure on electronic boardsContributo in Atti di convegno | Francesco Adamo; Gregorio Andria; Attilio Di Nisio; Nicola Giaquinto; Valeria L. Scarano; Maurizio Spadavecchia | CONFERENCE PROCEEDINGS - IEEE INSTRUMENTATION/MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE

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  3. 2013A comparative study on mother wavelet selection in ultrasound image denoisingArticolo in rivista | Francesco Adamo; Gregorio Andria; Filippo Attivissimo; Anna Maria Lucia Lanzolla; Maurizio Spadavecchia | MEASUREMENT

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  4. 2013Acquedotto Pugliese utilizza le microonde per la ricerca perditeArticolo in rivista | Nicola Giaquinto | SERVIZI A RETE

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  5. 2013Analisi degli effetti delle funzioni wavelet sulla qualità delle immagini mediche ecograficheContributo in Atti di convegno | Gregorio Andria; Filippo Attivissimo; Giuseppe Cavone; Anna Maria Lucia Lanzolla; Amerigo Trotta

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  6. 2013An electromagnetic-based method for pinpointing leaks in buried pipes: a practical validationArticolo in rivista | Nicola Giaquinto | WATER SCIENCE AND TECHNOLOGY: WATER SUPPLY

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  7. 2013An inverse validation for detecting pipe leaks with a TDR-based methodContributo in Atti di convegno | Nicola Giaquinto; Mario Savino | IMEKO

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  8. 2013A Proposal for an Open Source Energy MeterContributo in Atti di convegno | Francesco Adamo; Giuseppe Cavone; Attilio Di Nisio; Anna Maria Lucia Lanzolla; Maurizio Spadavecchia | CONFERENCE PROCEEDINGS - IEEE INSTRUMENTATION/MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE

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  9. 2013A statistical approach for MR and CT images comparisonArticolo in rivista | Gregorio Andria; Filippo Attivissimo; Anna Maria Lucia Lanzolla | MEASUREMENT

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  10. 2013A Suitable Threshold for Speckle Reduction in Ultrasound ImagesArticolo in rivista | Gregorio Andria; Filippo Attivissimo; Anna Maria Lucia Lanzolla; Mario Savino | IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT

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