2012Uso bayesiano e frequentista del Supplemento 1 della GUMContributo in Atti di convegno | Filippo Attivissimo; Nicola Giaquinto; Mario Savino
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2012Validation of a Photovoltaic Electrical Model against Experimental DataContributo in Atti di convegno | Filippo Attivissimo; Attilio Di Nisio; Maurizio Spadavecchia | CONFERENCE PROCEEDINGS - IEEE INSTRUMENTATION/MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE
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2012Validazione sperimentale outdoor del modello a due diodi per pannelli fotovoltaiciContributo in Atti di convegno | Filippo Attivissimo; Attilio Di Nisio; Maurizio Spadavecchia | Aracne Editrice
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2012Wavelet Based Methods for Speckle Reduction in Ultrasound ImagesContributo in Atti di convegno | Gregorio Andria; Filippo Attivissimo; Anna Maria Lucia Lanzolla; Mario Savino | CONFERENCE PROCEEDINGS - IEEE INSTRUMENTATION/MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE
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2011Analysis of Influence Parameters on Image Quality in Ultrasound ExaminationsContributo in Atti di convegno | Anna Maria Lucia Lanzolla; Giuseppe Cavone; Mario Savino; Maurizio Spadavecchia | IEEE
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2011Analysis of the Uncertainty of the Double-diode Model of a Photovoltaic PanelContributo in Atti di convegno | Francesco Adamo; Filippo Attivissimo; Attilio Di Nisio; Maurizio Spadavecchia | CONFERENCE PROCEEDINGS - IEEE INSTRUMENTATION/MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE
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2011A New Method to Compare Image Quality in CT and MRI ImagesContributo in Atti di convegno | Gregorio Andria; Anna Maria Lucia Lanzolla; Filippo Attivissimo | IEEE
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2011An integrated system for the management of medical dataContributo in Atti di convegno | Francesco Adamo; Filippo Attivissimo; Attilio Di Nisio | IEEE
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2011Characterization and Testing of a Tool for Photovoltaic Panel ModelingArticolo in rivista | Francesco Adamo; Filippo Attivissimo; Attilio Di Nisio; Maurizio Spadavecchia | IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT
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2011Customized System for Vegetable Oils Quality Control based on Dielectric Spectroscopy AnalysisContributo in Atti di convegno | Filippo Attivissimo | CONFERENCE PROCEEDINGS - IEEE INSTRUMENTATION/MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE
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