1999Digital methods for very accurate ultrasonic sensor measurementsContributo in Atti di convegno | Gregorio Andria; Filippo Attivissimo; Nicola Giaquinto | CONFERENCE PROCEEDINGS - IEEE INSTRUMENTATION/MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE
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1999Ideas for a Standard on model identification of digital waveform recordersContributo in Atti di convegno | Gregorio Andria; Filippo Attivissimo; Giuseppe Cavone; Nicola Giaquinto; Mario Savino; Amerigo Trotta
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1999Miglioramento delle metodologie di prova per la caratterizzazione di oscilloscopi digitaliContributo in Atti di convegno | Gregorio Andria; Filippo Attivissimo; Nicola Giaquinto; Mario Savino; Amerigo Trotta
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1999Tecniche digitali per misure su sensori ad ultrasuoniContributo in Atti di convegno | Gregorio Andria; Filippo Attivissimo; Nicola Giaquinto; Mario Savino
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1998A CNN-based passive optical range finder for real time robotic applicationsContributo in Atti di convegno | Nicola Giaquinto; Mario Savino | CONFERENCE PROCEEDINGS - IEEE INSTRUMENTATION/MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE
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1998Caratterizzazione di uno strumento digitale per misure su segnali non stazionari rumorosiContributo in Atti di convegno | Gregorio Andria; Filippo Attivissimo; Anna Maria Lucia Lanzolla
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1998Digital measuring techniques for high accuracy ultrasonic sensor applicationContributo in Atti di convegno | Gregorio Andria; Filippo Attivissimo; Anna Maria Lucia Lanzolla | CONFERENCE PROCEEDINGS - IEEE INSTRUMENTATION/MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE
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1998Low-cost accurate characterization of FM sine wave generatorsArticolo in rivista | Filippo Attivissimo; Nicola Giaquinto; Mario Savino | IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT
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1998Metrological qualification of data acquisition systemsArticolo in rivista | Nicola Giaquinto; Mario Savino; Amerigo Trotta | COMPUTER STANDARDS & INTERFACES
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1998Nonlinear averagings and overlapping techniques for spectral analysis of noisy signalsContributo in Atti di convegno | Filippo Attivissimo; Mario Savino; Amerigo Trotta | CONFERENCE PROCEEDINGS - IEEE INSTRUMENTATION/MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE
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